該測(cè)試平臺(tái)主要用于加速功率半導(dǎo)體器件的老化速度，可將其10-30年的運(yùn)行壽命縮短至3個(gè)月以?xún)?nèi)，并且在老化過(guò)程中，實(shí)時(shí)全方位電熱性能的監(jiān)測(cè)，深度評(píng)估被測(cè)功率半導(dǎo)體的可靠性與壽命。